C114通信網(wǎng)  |  通信人家園

技術(shù)
2022/4/19 10:42

VIAVI保駕護航G.654E光纖部署和維護

C114通信網(wǎng)  

助力中國電信開拓創(chuàng)新

東數(shù)西算”助推光纖升級換代,G.654.E光纖迎來高速增長

·數(shù)字經(jīng)濟是國家高質(zhì)量發(fā)展的抓手,東數(shù)西算是推動國家數(shù)字經(jīng)濟發(fā)展的重要戰(zhàn)略舉措。東數(shù)西算骨干網(wǎng)絡(luò)需要高性能的光纖,必將推動傳統(tǒng)光纖的升級換代,G.654.E光纖將迎來高速增長機會。

·ITU-T自2013年7月開始討論這種適用于陸地傳輸系統(tǒng)的G.654光纖(G.654.E),可以在保持與現(xiàn)有陸地應(yīng)用單模光纖基本性能一致前提下,增大光纖有效面積,同時降低光纖衰減系數(shù),從而提升400G傳輸性能。

·ITU-TG.654標準上一版本發(fā)布于2012年,共包含A、B、C和D四個子類,主要區(qū)別在于MFD范圍和宏彎性能上。在G.654最新版本修訂中,針對陸地高速相干傳送系統(tǒng)應(yīng)用,增加了E子類。G.654.E光纖標準主要修訂內(nèi)容

·在2016年9月ITU-TSG15全會上,G.654標準修訂完成并通過,標志著應(yīng)用于陸地高速傳送系統(tǒng)的G.654.E光纖正式完成標準化工作。此次會議主要針對G.654.E光纖的模場直徑(MFD)與有效面積、宏彎損耗特性、色散參數(shù)和衰減系數(shù)等特性進行了規(guī)定。

·模場直徑(MFD)與有效面積

·G.654.E光纖在1550nm區(qū)的MFD范圍為11.5um~12.5um,相應(yīng)的有效面積范圍從110um2到130um2,相比現(xiàn)有G.654.B子類(9.5um~13um),縮嚴了MFD標稱值范圍,但容差仍然保持為±0.7um。

·宏彎損耗特性

·陸地應(yīng)用工作環(huán)境復(fù)雜,溫度和氣候等復(fù)雜多變,外部環(huán)境對光纖性能影響較大;因此G.654.E光纖彎曲性能尤為重要,需要遠優(yōu)于海底應(yīng)用的G.654光纖。

·因此針對G.654.E子類,其標準要求在100圈30mm半徑打環(huán)時,在1625nm處的最大附加衰減應(yīng)不超過0.1dB,要遠優(yōu)于G.654.B子類(0.5dB)和G.654.D子類(2dB),達到與G.652.D完全相同的彎曲性能,以打消有效面積增大可能導(dǎo)致陸地應(yīng)用彎曲性能劣化的顧慮。

·在中國聯(lián)通現(xiàn)網(wǎng)試點工廠測試中,基于ITU規(guī)范的測試方法,分別測試了1550nm和1625nm處的宏彎損耗,可發(fā)現(xiàn)附加衰減基本都小于0.1dB,其中81.8%要小于0.05dB。

G.654.E光纖性能

指標要求

·衰減系數(shù) - 標準文件正文中明確指出在1550nm區(qū)域,可以實現(xiàn)0.15dB/km到0.19dB/km的光纖衰減系數(shù),其中最低衰減系數(shù)取決于制造工藝、光纖材料與設(shè)計以及光纜設(shè)計。

·色散參數(shù) - 由于G.654光纖主要工作波長區(qū)域在1530nm~1625nm,因此針對該波長區(qū)規(guī)范了色散和色散斜率的范圍,其中在1550nm處,色散最大值Dmax為23ps/(nm·km),最小值Dmin為18ps/(nm·km),色散斜率最大值Smax為0.07ps/(nm2·km),最小Smin為0.05ps/(nm2·km)

400G+的需求使G.654.E 成為超高傳輸技術(shù)光纖主流

“東數(shù)西算”網(wǎng)絡(luò)布局空間跨度大,數(shù)據(jù)傳輸更為頻繁,用戶對時延要求更高,現(xiàn)有骨干網(wǎng)絡(luò)的性能難以勝任。事實上隨著數(shù)據(jù)流量不斷增長,傳統(tǒng)承載網(wǎng)的數(shù)據(jù)傳輸和帶寬壓力不斷增加,骨干網(wǎng)傳輸速率將從100G不斷向200G/400G等更高速率升級。根據(jù)預(yù)測(見圖2),未來2年,超100G網(wǎng)絡(luò)在整體市場份額中將超過60%,并且400G+將成為超100G網(wǎng)絡(luò)的主流應(yīng)用。中國移動研究院專家表示,從骨干網(wǎng)層面來看,單波400G即將開啟,并進入長周期。因此,提前部署支持200G、400G系統(tǒng)的光纖光纜產(chǎn)品是建設(shè)高速信息網(wǎng)絡(luò)的基礎(chǔ)。但現(xiàn)網(wǎng)中使用的G.652光纖,已經(jīng)無法滿足未來光傳輸網(wǎng)絡(luò)超高速率、超大容量、超長距離的傳輸需要。

G.654.E光纜的熔接機熔接及測試需求

·工程方面,主要反饋熔接一次成功率低,導(dǎo)致光纜接續(xù)時間長。通過分析,主要原因來自于:一是環(huán)境因素,工程反映不同季節(jié)熔接成功率差異大,車內(nèi)施工有利于改善質(zhì)量;二是裝備原因,熔接機自動接續(xù)模式下,熔接損耗缺乏穩(wěn)定性。

·G.654.E較寬泛的模場直徑——不同廠家纖芯互熔產(chǎn)生較大接續(xù)損耗(高達0.2dB)

·G.654.E的大有效面積——某些熔接機無法準確識別纖芯、包層,需要設(shè)為包層對準、甚至多模模式才能熔接,對熔接損耗有潛在影響

·G.652.D和G.654.E在折射率剖面設(shè)計、模場直徑差異明顯——二者互熔存在熔接損耗過大、反射明顯。

需要OTDR的更加精準的雙向測試驗收!

G.654.E OTDR測試方案

MTS4000、ONA-800 測試平臺

·OTDR 支持三波長,測試1550nm及1625nm波長

·OTDR 更高的測試精度及線性度

·OTDR支持現(xiàn)場的真正雙向測試,實時給出測試結(jié)果

***電信G.654E長途光纜 - OTDR測試儀表

XX電信G.654E長途光纜OTDR測試報告

測試時間:2021年10月29日

測試地點:中國電信***分公司

測試人員:VIAVI儀表廠家、**電信工作人員

測試儀表:VIAVI ONA-800 E8136D

儀表主要技術(shù)參數(shù):

光纖端面檢測 – 先檢查,后連接

確保符合IEC 61300-3-35(端面驗收標準)的簡單方法是遵循先檢查,后連接(IBYC)最佳實踐。 檢查連接的兩側(cè)非常重要 - 例如,檢查連接的公頭端和母頭端的連接器。 檢查連接的兩側(cè)是確保連接沒有污染和缺陷的唯一方法。 使用IBYC時,請務(wù)必先檢查光纖 - 無需清潔干凈的端面。 如果臟了,請清潔并再檢查以確認清潔是否有效。 只有當(dāng)兩個連接器都干凈時,才能進行連接。

1550nm波長結(jié)果分析:

VIAVI G654.E分析配置文件測試結(jié)果可直觀反映長途光纖,并針對其中的光纖接頭,熔接,連接器等有明顯標注、解釋,方便非專業(yè)技術(shù)人員查看,理解。在1550nm波長下,測得光纜總損耗16.543dB(包含鏈路中的所有接頭損耗), 平均損耗0.177dB, 鏈路回損30.24dB, 以及各分段的長度,斜率(小于0.17dB或等于0.171dB/km,其中包含接頭 及熔接)等參數(shù)。同時也可呈現(xiàn)真實測試的OTDR曲線。

1625nm波長結(jié)果分析:

VIAVI G654.E分析配置文件測試結(jié)果可直觀反映長途光纖,并針對其中的光纖接頭,熔接,連接器等有明顯標注、解釋,方便非專業(yè)技術(shù)人員查看,理解。在1625nm波長下,測得光纜總損耗18.188 dB(包含鏈路中的所有接頭損耗), 平均損耗0.195dB, 鏈路回損30.66dB, 以及各分段的長度,斜率(均小于0.19dB/km,其中包含接頭及熔接)等參數(shù)。同時也可呈現(xiàn)真實測試的OTDR曲線。

1625nm波長結(jié)果分析:

VIAVI G654.E分析配置文件測試結(jié)果可直觀反映長途光纖,并針對其中的光纖接頭,熔接,連接器等有明顯標注、解釋,方便非專業(yè)技術(shù)人員查看,理解。在1625nm波長下,測得光纜總損耗4.739 dB(包含鏈路中的所有接頭損耗), 平均損耗0.200dB, 鏈路回損31.41dB, 以及各分段的長度,斜率(均小于0.2dB/km, 包含接頭及熔接)等參數(shù)。同時也可呈現(xiàn)真實測試的OTDR曲線。

熔接增益及雙向測試

在XX電信的測試中,我們發(fā)現(xiàn)每條鏈路都出現(xiàn)了增益現(xiàn)象。如右圖***到**樞紐段的測試結(jié)果,第六個事件的損耗為-0.017dB,此為熔接增益現(xiàn)象。為準確測試該事件點的損耗,需執(zhí)行OTDR雙向測試。

雙向分析的概念如下:如果在兩個熔接的光纖之間存在后向散射系數(shù)的不匹配,則根據(jù)測量的方向,此差異的代數(shù)含義將會改變。即,如果在一個方向上執(zhí)行測量,則此差異作為增益出現(xiàn)。如果在相反方向測量,則此差異作為損耗出現(xiàn)。此差異將與測量過程中的實際熔接損耗相結(jié)合。然而,如果在兩個方向上所讀取的熔接損耗讀數(shù)被平均,則后向散射的影響將被減去,生成實際的熔接損耗。

為何要雙向測試

消除光纖增益影響,測試熔接點實際損耗,科學(xué)輔助工程驗收

傳統(tǒng)雙向測試很麻煩,效率很低

→ 第一步: 做一端測試 A-B:

→ 第二步: 做另一端測試 B-A:

→ 第三步: 將測試數(shù)據(jù)導(dǎo)出到電腦中,使用專用的分析軟件,做雙向數(shù)據(jù)合并分析,軟件給出雙向測試結(jié)果。

→ 第四步:根據(jù)電腦軟件的數(shù)據(jù)分析結(jié)果,在次去處理故障問題,不能實時給出測試結(jié)論。

→ 重復(fù)以上過程。

真正的熔接損耗:  ( Eventloss A→B + Eventloss B→A ) / 2

@1550 nm : 0,049 dB

TestPRO/FCOMP:智能真雙向測試

特點:

·自動智能雙向測試

·一鍵測試, 基于一個光口

·連續(xù)測試

·全面測試出所有指標:

·雙方向測試插損及反射指標

·雙方向OTDR曲線

·遠程控制

·兩臺OTDR 自動交互

·測試設(shè)備直接生成雙向測試報告,當(dāng)場給出測試結(jié)果。

自動真雙向測試

針對多纖光纜/MPO 應(yīng)用進行擴展,與單芯光纖具有相同的實時雙向OTDR (TrueBIDIR) 功能

·連續(xù)性測試和光纖映射(MPO 極性),多纖光纜/MPO光纖鏈路Tier2驗證報告

·使用CABLE-SLM 控制測試過程

色散

在傳輸過程中,影響信號的另一個因素是色散。色散減少了有效的可用傳輸帶寬,單模光纖有兩種類型的色散:色散以及極化模式色散。

色散(CD)的出現(xiàn)是因為光脈沖是由不同波長組成的,每個波長以不同的速度沿著光纖進行傳輸。當(dāng)光脈沖到達接收機時,這些不同的傳輸速度展寬了光脈沖,減少了信噪比,增加了比特誤碼。

極化模式色散

色散由三個主要參數(shù)來定義:

1. 給定波長上的延時,以ps表示。

2. 色散(D)系數(shù),以ps/nm表示。它對應(yīng)于延時的漂移與波長之間的關(guān)系(或者對應(yīng)于在給定波長上表示延時與距離之間關(guān)系曲線的斜率)。如果它相對1 km進行歸一化,則它被表示為ps/(nm·km)。

3. 斜率(S),以ps/(nm2·km)表示。它對應(yīng)于色散系數(shù)的漂移作為波長的函數(shù)(或者表示在給定波長上,色散作為距離的函數(shù)曲線的斜率)。

色散系數(shù)(相對1 km進行歸一化)以及斜率依賴于光纖的波長。色散主要依賴于生產(chǎn)過程。當(dāng)設(shè)計不同類型的光纖用于不同的應(yīng)用與不同的需求時,光纜生產(chǎn)廠家考慮色散的效應(yīng),例如標準光纖,色散偏移光纖或者零色散偏移光纖。

→ 極化模式色散(PMD)是單模光纖的一個基本特性。它影響傳輸速率的大小。PMD是由于給定波長上的能量的傳輸速率的不同而引起的,PMD被分為兩個極化軸,這兩個極化軸互相垂直(如下圖所示)。引起PMD的主要原因是光纖設(shè)計的非圓度以及外界加在光纖上的壓力(宏彎、微彎、扭曲與溫度變化)。

PMD也被稱為所有差分群時延(DGD)的平均值,以ps表示。它還可以被稱為PMD系數(shù),此系數(shù)與距離的方根值有關(guān),被表示為

當(dāng)傳輸脈沖沿著光纖傳送時,PMD(平均DGD)引起傳輸脈沖展寬。此現(xiàn)象會生成失真,增加了光系統(tǒng)的比特誤碼率(BER)。PMD的影響是它限制了鏈路上的傳輸比特率。因此,非常重要的一點是了解光纖的PMD值以便計算光纖鏈路的比特率限值。

G.654.E干線色散測試方案

測試光源、PMD/CD分析儀集成方案,全部為便攜式儀表方案,電池供電

測試距離長,跨度大,精度高,速度快。

總結(jié)

·中國電信在國內(nèi)率先建成該干線光纜、推動了G.654E產(chǎn)業(yè)鏈的成熟、對干線光纜網(wǎng)從G.652D邁入G.654E新型光纖時代具有引領(lǐng)作用,對建設(shè)綠色低碳全光網(wǎng)絡(luò)具有積極重要的示范意義。

·使用VIAVI儀表可準確測試G654.E光纖斜率,損耗和光纖距離。

·測試中可準確判斷連接器,熔接點等各種事件類型。

·儀表支持智能鏈路分析功能,可智能圖形化呈現(xiàn)測試結(jié)果,便于查看。同時對于事件點給出原因分析,便于后續(xù)故障處理。

·儀表動態(tài)范圍達到50/50/50dB(1310/1550/1625nm),超高動態(tài)范圍可測試更遠距離。

·儀表的事件盲區(qū)和衰減盲區(qū)分別為0.5/2.5米,更好的盲區(qū)可保證更高的測試精度。

·MTS6000+ODM,OBS-550色散測試方案,測試距離長,跨度大,精度高, 滿足PMD/CD測試分析的所有需求

·FiberComplete - OTDR雙向測試能夠更精確,更真實給出熔接/事件損耗。

·為了能夠更加全面的測試G.654E光纖具備優(yōu)異的光學(xué)性能。VIAVI的測試儀表可以為G.654E的現(xiàn)場驗收及測試給以更大的幫助與支持。

·儀表采用基于LINUX研發(fā)的專用儀表操作系統(tǒng),在運行穩(wěn)定性和安全性方面有更多優(yōu)勢。

給作者點贊
0 VS 0
寫得不太好

免責(zé)聲明:本文僅代表作者個人觀點,與C114通信網(wǎng)無關(guān)。其原創(chuàng)性以及文中陳述文字和內(nèi)容未經(jīng)本站證實,對本文以及其中全部或者部分內(nèi)容、文字的真實性、完整性、及時性本站不作任何保證或承諾,請讀者僅作參考,并請自行核實相關(guān)內(nèi)容。

熱門文章
    最新視頻
    為您推薦

      C114簡介 | 聯(lián)系我們 | 網(wǎng)站地圖 | 手機版

      Copyright©1999-2024 c114 All Rights Reserved | 滬ICP備12002291號

      C114 通信網(wǎng) 版權(quán)所有 舉報電話:021-54451141